La radiación sincrotrón es una herramienta sumamente poderosa que permite una caracterización exhaustiva de la naturaleza química y estructura de materiales. Con el objeto de indagar sobre las características fundamentales de diversos materiales, nuestro laboratorio recurre regularmente a la utilización de una variedad de métodos que van desde la dispersión de rayos X hasta el uso de técnicas espectroscópicas. A través del uso de estas técnicas podemos obtener una perspectiva excepcional sobre las propiedades físico-químicas de los materiales y abordar una gran variedad de cuestiones relativas a:
(A) – Micro- y nanoestructura
(B) – Transformaciones estructurales resueltas en el tiempo
(C) – Dinámica de autoensamblado
(D) – Transformaciones químicas
(E) – Elucidación de entornos locales en especies químicas
(F) – Organización en mesoescala de materiales complejos y nanoestructurados (polímeros, coloides, tensioactivos, etc.).
Nuestras actividades experimentales basadas en el uso de técnicas de sincrotrón se realizan regularmente en el Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón (LNLS, Campinas – Brasil). Estas investigaciones está mayormente enfocadas en:
(A) – Procesamiento in-situ de materiales
(B) – Dinámica estructural de ensamblados supramoleculares
(C) – Estructura y dinámica de las películas híbridas delgadas
(D) – Caracterización química y estructural de redes metalo-orgánicas.
Generalmente empleamos una variedad de técnicas y entornos de muestra (humedad, temperatura, etc.) para el estudio y análisis de interfaces en la nanoescala.
Las técnicas basadas en el uso de sincrotrón que se utilizan actualmente en el Laboratorio de Materia Blanda son:
(A) – Grazing-incidence X-ray diffraction (GID) and small-angle scattering (GISAXS)
(B) – Small- and wide-angle X-ray scattering (SAXS/WAXS)
(C) – X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
(D) – X-ray reflectometry (XRR)
(E) – X-ray Absorption Near Edge Structure Spectroscopy (XANES).
(F) – Extended X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy (EXAFS)